近年来，随着信息技术的飞速发展，我国对电子元器件的需求越来越大。与此同时，电子元器件也逐渐呈现出薄型化、智能化、集成化、微型化的趋势。而这也给电子元器件的检测带来了挑战，严重制约了公司批量生产效率和产品质量的提高。这时，机器视觉检测应运而生，改变了传统的人工视觉检测方法。

电子元器件的生产过程涉及许多复杂的工序。经过多道工序后，可能会出现各种问题，如尺寸测量、表面缺陷、字符不清等。由于电子元器件种类繁多，各种电子元器件的结构形状、损伤程度和检测方法也各不相同，使得传统的机器视觉检测方法无法适应高速、柔性的生产需求。

智能机器视觉缺陷检测是利用深度学习算法将人工智能的力量注入传统机器视觉检测的变革性技术，彻底改变电子产品的生产流程，提高生产的灵活性和自动化程度。虚思科技利用“深度学习+机器视觉”技术，让电子元器件制造行业高效、准确地完成检测任务，避免人工检测造成的误检，从而提高元器件出货质量，增强产品竞争力。

在电子元器件（含半导体）检测过程中，基于智能机器视觉缺陷检测技术应用的工业缺陷检测系统，能够实时监控生产质量数据，准确高效地完成检测任务，减少不良品产生，保证产品质量。提高产品竞争力，并大大提高电子元器件行业生产线的智能化和自动化水平。技术既提高了生产效率，又降低了生产成本，进一步促进了电子元器件行业的发展。